Wycieki elektronów opóźnią lepsze procesory do urządzeń mobilnych

Zdaniem specjalistów z Intela, problemy z wyciekaniem mocy (ang. power leakage) w procesorach do urządzeń przenośnych są na tyle poważne, że użytkownicy nie powinni na razie spodziewać się telefonów zasilanych elektroniką wykonaną w technologii 65 nm.

Wszystkie układy zbudowane z wykorzystaniem półprzewodników cierpią z powodu wycieku elektronów przez izolator - im izolator cieńszy, tym cząstkom łatwiej uciec. Jest to jeden z głównych czynników hamujących dalszą miniaturyzację np. procesorów.

W CPU stosowanych w komputerach marnuje się (tj. wycieka) około jedna czwarta konsumowanej energii. W procesorach mobilnych wykonanych w technologii 90 nm - już prawie dziewięćdziesiąt procent. Intel szacuje, że przejście na 65 nm sprawiłoby, iż bateria w typowym PDA wyczerpywałaby się w ciągu kilku minut.

Z tego powodu korporacja w ciągu najbliższych dwóch lat chce udoskonalić swoje procesory do urządzeń mobilnych. Już teraz trwają prace nad technologią p1265, która ma obniżyć wycieki o 99,9 procenta.

Nie wiadomo jednak, czy pojawi się ona w obecnie produkowanych układach Xscale - znanych z PDA, telefonów/smartfonów i handheldów.


Zobacz również